ホーム> ニュース> 製品・展示会> 第12回 国際ナノテクノロジー総合展(2013年1月30日〜2013年2月1日)|ナノパームポロメーター等

第12回 国際ナノテクノロジー総合展(2013年1月30日〜2013年2月1日)|ナノパームポロメーター等

2012.12.21



名称 会期 会場
第12回 国際ナノテクノロジー総合展 2013年 1月30日

2013年 2月 1日
東京ビックサイト 
東4・5・6ホール&会議等
交通アクセス

公式サイト

http://www.nanotechexpo.jp/

出展製品

・SEM・TEM 用ナノインデンテーションホルダー(米国 Hysitron社)
・SEM・TEM 用加熱・電気・液中観察ホルダー(米国 Protochip社)
・電子顕微鏡CCDカメラシステム(独国 OSIS社)
・細孔径分布測定装置 パームポロメーター(米国 PMI社)
・ナノ細孔径分布測定装置 ナノパームポロメーター(西華産業製)
・液液置換 低圧細孔径分布測定装置 リキッドポロメーター(米国 PMI社)
・ナノファイバー不織布材 XanoShare(米国 Xanofi社)

ニュース