製品情報（計測機器・システム／ａｎａｌｙＳＩＳ）

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ＳｏｆｔＩｍａｇｉｎｇＳｙｓｔｅｍ

【ＳＩＳソフトウェアファミリー】
　

	Scandium SEM用画像解析ソフト basic functionに加えPC-SEMコミュニケーション、チルトコレクション、データバー表示、 PC-SEMフォーマットの読み込み機能等が含まれております

	iTEM TEM用画像解析ソフト basic functionに加えFFTフィルター、リアルタイムFFT機能、 TEM通信（顕微鏡情報）、オートフォーカス機能等が含まれております

	analySIS FIVE 光学顕微鏡用画像解析ソフト（3つのバージョンに分かれます） Docu：basic functionにEFIをパッケージした構成です Auto：Docuに粒子解析モジュール、シーケンス処理機能等をパッケージした構成です Pro：AutoにFFTフィルター、imagingCモジュール、自動キャリパー機能等をパッケージした最上位　　　バージョンです

標準装備の機能にoption moduleを加えることで更にバージョンアップが出来ます。

=basic function=

STARデータベース機能	画像や計測データを効率的に管理でき、系統立てた整理、検索が可能です。
MIA（自動パノラマ機能）	オーバーラップさせて取り込んだ複数枚の画像から自動で広視野画像を作成。
各種画像処理フィルター	DCEフィルターやシェーディング補正等、独自の優れた画像改善フィルターを装備。
マルチ言語機能	英語、ドイツ語、フランス語、日本語、イタリア語、中国語に対応
インタラクティブ計測機能	100を超える計測項目。また計測結果はExcel互換のシートで出力可能
スライスViewer	複数枚スライス画像から任意XYZ断面を観察可能。オプションで内容物の立体構築も可能。
Graph機能	データシートやX線分析装置からのスペクトルデータの自在なグラフ表示/計測が可能。
レポート作成機能	顕微鏡画像に特化した報告書が作成可能。 word、リッチテキスト形式での出力も可能

=option module=

EFI（拡張焦点画像）	厚みのある資料に対して、フォーカスをずらしながら撮影した複数シリーズの画像から、全面にピントの合った鮮明な画像を作成。また高さマップを作成し３Ｄ像も構築可能。（analySIS FIVE標準装備） >>about 3D
粒子解析モジュール	画像から粒子を検出及び解析するための機能。各種画像処理フィルターにより従来困難であった繋がった粒子の分離が可能。 >>more information
ステレオ画像処理（Scandium用）	視差角（3～6度の傾斜）をつけたペア画像から高さ計測や表面形状計測、ステレオ三次元アニメーション等の作成。（Scandium用） >>about 3D
VoxelViewer	FIB画像やCT画像等の複数枚スライス画像から任意の帯域の可視化／三次元構築。構築した三次元からは座標、距離、長さ等の計測が可能。 >>about 3D
ASAC（TEM/CBED歪解析）	TEM/CBED像からシリコン（Si）等の自動歪解析が可能。歪のないシリコンの像からTEMの実行電圧を決定し、歪シリコン像から歪テンソル、トレースを計測。

レポート作成機能
自動レポ－ト作成機能により、複数ペ－ジのレポ－トを素早く、
効果的に作成出来ます。
・画像、ドキュメントの挿入
・データベースフィールドの情報を自動的にレポートに含める。
・オートスケールバーやズーム機能により画像処理作業を最適化。
・レポートジェネレータにより画像や計測シート/ダイアグラムを同
　ページに印刷。
・一度テンプレートを作成すれば、同じ形式のレポートの作成。
・RTF（リッチテキストファイル）形式で保存。
・MS Wordにレポートをエクスポート。

細胞核, 11000x
露出時間 500 ms
1280x1024ピクセル x12ビット

MIA（自動パノラマ機能）
オーバーラップさせて取り込んだ複数枚の画像から自動で広視野画像を作成する。
カメラが必要な解像度をサポ－トしなかったり、
顕微鏡の持つ解像度では、オブジェクトを部分的にしか表示できず、高解像度で画像を取り込めない時、 MIAが非常に有効になります。

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